Metrologija

Visokošolski učitelji: Bojkovski Jovan

Visokošolski učitelji: , Drnovšek Janko
Število kreditnih točk: 5
Semester izvajanja: poletni
Kodo predmeta: 64664



Opis predmeta

Pogoji za vključitev v delo oz. za opravljanje študijskih obveznosti:

  • Vpis v drugi letnik visokošolskega strokovnega študija.

Vsebina:

  • EU klasifikacija meroslovnih sistemov/področij (zakonsko, znanstveno, industrijsko), mednarodne organizacije (BIPM, OIML, EURAMET)
  • Osnovne SI enote, definicije in realizacije (realizacija osnovnih enot v Sloveniji)
  • Osnovni pojmi pri prezentaciji merilnih rezultatov (negotovost, korekcija, sistematični pogrešek, ...)
  • Merilna negotovost (tip A (statistična) in tip B (nestatistična)),
  • Tipični viri negotovosti, ocena in računanje negotovosti, kalibracijski postopki, primeri iz različnih področij tehnike in naravoslovja
  • Osnove verjetnosti in teorija informacij v merilni tehniki
  • Moderna programska orodja in strojna oprema meroslovnih laboratorijev po področjih s poudarkom na osnovnih veličinah SI

Cilji in kompetence:

  • spoznavanje meroslovnih sistemov, hierarhičnih zgradb in mednarodnih organizacij, EU klasifikacija, vpetost slovenskega sistema v mednarodni sistem merjenj
  • pridobiti znanje o osnovnih in izpeljanih SI enotah, razumeti definicije, realizacije, vzdrževanje in diseminacijo ali prenos vrednosti, ter sledljivost na mednarodno raven.
  • spoznati osnovne pojme pri prezentaciji merilnih rezultatov kot so negotovost, korekcija
  • proučiti tipične vire negotovosti pri električnih in neelektričnih meritvah
  • spoznati osnovne statistične porazdelitve, ki se uporabljajo pri analizi merilnih rezultatov in negotovosti
  • spoznavanje tehnologije, instrumentacije,
  • pridobivanje sposobnosti celovitega reševanja merilnih problemov

Predvideni študijski rezultati:

Znanje in razumevanje: osnovni pojmi iz področja metrologije, razumevanje ustroja sodobnih metroloških sistemov, napredni pojmi iz tehniške kakovosti

Metode poučevanja in učenja:

  • Predavanja,
  • seminarji,
  • laboratorijske vaje.





Gradiva

Temeljni literatura in viri:

  1. DRNOVŠEK, Janko, BOJKOVSKI, Jovan, GERŠAK, Gregor, PUŠNIK, Igor, HUDOKLIN, Domen, GERŠAK, Gregor, Metrologija, ; Fakulteta za elektrotehniko 2012
  2. BIPM: "The International System of Units (SI)", 8 izdaja, 2006
  3. BIPM Evaluation of measurement data — Guide to the expression of uncertainty in measurement, JCGM 100:2008
  4. BIPM, International vocabulary of metrology – Basic and general concepts and associated terms (VIM), JCGM 200:2012
  5. Morris, A.S.: Measurement and Instrumentation: Theory and Application, ELSEVIER, 2011



Študiji na katerih se predmet izvaja

  • 2 letnik - 1. stopnja - Aplikativna elektrotehnika - Tehniška kakovost